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以碳化硅材料為基材并具有多個不同電氣特性的分區(qū)的半導體結構

關鍵詞 碳化硅材料基材 , 半導體結構 |2010-12-23 00:00:00|行業(yè)專利|來源 中國超硬材料網
摘要 名稱以碳化硅材料為基材并具有多個不同電氣特性的分區(qū)的半導體結構公開號1265227公開日2000.08.30主分類號

 

名稱 以碳化硅材料為基材并具有多個不同電氣特性的分區(qū)的半導體結構 
公開號 1265227  公開日 2000.08.30   
主分類號 H01L29/24  分類號 H01L29/24;//H01L29/78,29/808H01L29/812,,29/739 
申請?zhí)?/strong> 98807535.0   
分案原申請?zhí)?/strong>   申請日 1998.07.27   
頒證日   優(yōu)先權 [32]1997.7.31[33]DE[31]19733076.2 
申請人 西門子公司    地址 德國慕尼黑  
發(fā)明人 德薩德·彼得斯; 萊因霍爾德·肖納    國際申請 PCT.DE98/02108 1998.7.27 
國際公布 WO99.7018 德 1999.2.11  進入國家日期 2000.01.24  
專利代理機構 柳沈知識產權律師事務所    代理人 侯宇   
摘要   一種以碳化硅材料為基材并具有多個不同電氣特性的分區(qū)的半導體結構。該SiC半導體結構(2)至少包含三個半導體區(qū)(G1至G3),其中第三半導體(G3)的表面包圍第二半導體區(qū)(G2)的表面,即第二分型面(F2),而第二半導體區(qū)(G2)表面又包圍第一半導體區(qū)(G1)的表面,即第一分型面( F1)。根據本發(fā)明,第二分型面(F2)的邊部(R2)的輪廓由第一分型面(F1)的邊部(R1)的輪廓所決定,兩者的關系是:第二分型面(F2)基本上是第一分型面(F1 )的特殊擴展圖像,其中第二分型面(F2)的邊部(R2)的輪廓與該擴展圖像的精確輪廓(Re)的偏差(△a)最大為±10nm。  
 

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